Aktualności

Szkolenia GC-MS i LC-MS, 26-29.04.2016

Szkolenia GC-MS:

  • W dniu 26.04. przeprowadzone zostaną dwie sesje szkolenia podstawowego z obsługi zestawu GC-MS dla studentów i doktorantów Wydziału Chemii UWr.. Zajęcia prowadzone będą w godz. 9:00-12:30 oraz 13:30-17:00.
  • W dniu 27.04. prowadzone będzie szkolenie zaawansowane dla studentów, pracowników i doktorantów Wydziału. Zainteresowane osoby mogą zgłosić się w uzgodnionych godzinach z własnymi próbkami i konkretnymi problemami, w rozwiązaniu których pomoże prowadzący szkolenie. Zajęcia prowadzone będą w grupach max. 5-osobowych, w godz. 8:30-12:30 oraz 14:30-16:00. 

Szkolenia LC-MS:

  • W dniu 28.04. przeprowadzone zostaną dwie sesje szkolenia podstawowego z obsługi zestawu LC-MS dla studentów i doktorantów Wydziału Chemii UWr.. Zajęcia prowadzone będą w godz. 9:00-12:30 oraz 13:30-17:00.
  • W dniu 27.04. prowadzone będzie szkolenie zaawansowane dla studentów, pracowników i doktorantów Wydziału. Zainteresowane osoby mogą zgłosić się w wybranych przez siebie godzinach z własnymi próbkami i konkretnymi problemami, w rozwiązaniu których pomoże prowadzący szkolenie. Zajęcia prowadzone będą w grupach max. 5-osobowych, w godz. 8:30-12:30 oraz 14:30-16:00.

 

Zapisy na wszystkie kursy odbywają się poprzez formularz internetowy.

Każda osoba zakwalifikowana do udziału w szkoleniu otrzyma indywidualne potwierdzenia od koordynatora projektu.

 

Obróbka danych LC-MS

Dane z pomiarów LC-MS z aparatu Shimadzu 8050 można opracowywać na jednym z komputerów w bibliotece wydziałowej. Zainstalowana jest na nim pełna, licencjonowana wersja oprogramowania Shimadzu LabSolutions. Klucz USB potrzebny do uruchomienia programu dostępny jest u pań bibliotekarek.

Szkolenie GC-MS 24-25.11.2015

W dniach 24-25 listopada 2015 odbędzie się kolejne szkolenie z obsługi zestawu GC-MS.

W dniu 24.11. przeprowadzone zostaną dwie sesje szkolenia podstawowego dla studentów i doktorantów Wydziału Chemii UWr.. Zajęcia prowadzone będą w grupach max. 5-osobowych, w godz. 11:00-13:30 oraz 14:30-17:00. Zapisy odbywają się poprzez formularz dostępny na stronie:

http://lcms.chem.uni.wroc.pl/kursy/1-szkolenia-know/2-kurs-b.html

W dniu 25.11. prowadzone będzie szkolenie zaawansowane dla pracowników i doktorantów Wydziału. Zainteresowane osoby mogą zgłosić się w wybranych przez siebie godzinach z własnymi próbkami i konkretnymi problemami, w rozwiązaniu których pomoże prowadzący szkolenie. Zapisy odbywają się poprzez arkusz Google. Grupy zgłaszające się na daną godzinę nie mogą być większe niż 5-6 osób.

Szkolenie zaawansowane LC-MS dla pracowników i doktorantów, 12-13.11.2015

W dniach 12-13 listopada 2015 (czwartek-piątek) odbędzie się szkolenie zaawansowane dotyczące zastosowania aparatu LC-MS 8050. Tym razem szkolenie polegać będzie na tym, że zainteresowane osoby powinny zgłosić się z własnymi próbkami i konkretnymi problemami, w rozwiązaniu których pomoże osoba prowadząca szkolenie. 

Osoby zainteresowane prosimy o wpisanie swoich nazwisk w wybranych przez siebie godzinach w udostępnionym arkuszu Google. Maksymalna ilość osób w grupie nie może przekroczyć 6.

 

Egzamin dla osób, które ukończyły szkolenia

Uwaga!

Wszystkie osoby, które odbyły szkolenia, otrzymają certyfikaty potwierdzające ich ukończenie. Aby dodatkowo uzyskać zaświadczenie o umiejętności posługiwania się sprzętem i oprogramowaniem, którego dotyczyło szkolenie, należy zdać egzamin, który odbędzie się w czwartek 25 czerwca 2015 o godzinie 12:00 w Audytorium I. 

Egzamin obejmować będzie m.in. następujące zagadnienia:

  • objętości martwe systemu UHPLC
  • co wpływa/co składa się na objętości martwe
  • w jaki sposób objętości martwe wpływają na analizę, zwłaszcza gradientową
  • jakie typy gradientu są najczęściej stosowane
  • zalety i wady gradientu formowanego po stronie niskiego i wysokiego ciśnienia
  • czym różnią się metody izokratyczne od gradientowych
  • proszę wymienić co najmniej 3 selektywności kolumn HPLC
  • co charakteryzuje parametr carryover, czyli współczynnik przeniesienia
  • proszę zwrócić uwagę na budowę spektrometru
  • czym różni się źródło jonów ESI od APCI, co je łączy
  • czym jest zjawisko cross talk w MS/MS
  • czym się różnią systemy jednowymiarowe LC od wielowymiarowych LCxLC
  • czy szybkość zmiany polaryzacji w MS ma znaczenie
  • czy szybkość skanowania może mieć wpływ na czułość spektrometru, jeśli tak to jaki, jeśli nie to dlaczego
  • z ilu analizatorów mas składa się potrójny kwadrupol
  • czym jest „method scouting" w HPLC

W przygotowaniu do egzaminu pomocne będą materiały zamieszczone na stronach "Aparatura", "Materiały pomocnicze" oraz "Materiały ze szkoleń" (dostępne po zalogowaniu).